Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 24-1: Magnetic interference tests - Test 24a: Residual magnetism (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 24-1: Zkoušky magnetické interference - Zkouška 24a: Zbytkový magnetismus.)
Norma vydaná dňa 1.1.2013
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-1: Test 25a - Crosstalk ratio.
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-1: Zkouška 25a - Odstup přeslechu.)
Norma vydaná dňa 30.9.2002
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss).
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-2: Zkouška 25b - Útlum (průchozí ztráty).)
Norma vydaná dňa 30.5.2003
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurement -- Part 25-3: Test 25c - Rise time degradation.
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-3: Zkouška 25c - Degradace doby náběhu.)
Norma vydaná dňa 30.9.2002
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-4: Test 25d - Propagation delay.
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-4: Zkouška 25d - Zpoždění vlivem šíření.)
Norma vydaná dňa 30.9.2002
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-5: Test 25e - Return loss
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-5: Zkouška 25e: Potlačení odrazů.)
Norma vydaná dňa 18.5.2005
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-6: Zkouška 25f: Obrazec typu oko a kolísání (jitter).)
Norma vydaná dňa 18.5.2005
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-7: Test 25g - Impedance, reflection coefficient and voltage standing wave ratio (VSWR)
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-7: Zkouška 25g - Impedance, koeficient odrazu a napěťový poměr stojatých vln (VSWR).)
Norma vydaná dňa 14.9.2005
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-9: Signal integrity tests - Test 25i: Alien crosstalk (Endorsed by AENOR in March of 2009.)
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-9: Zkoušky integrity a signálů - Zkouška 25i: Cizí přeslech.)
Norma vydaná dňa 1.3.2009
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 26-100: Measurement setup, test and reference arrangements and measurements for connectors according to IEC 60603-7 - Tests 26a to 26g (Endorsed by AENOR in February of 2009.)
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 26-100: Uspořádání měření, zkoušky a doporučené zapojení a měření na konektorech série IEC 60603-7 - Zkoušky 26a až 26g.)
Norma vydaná dňa 1.2.2009
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 29730 až 29740 z celkom 64645 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-09-11 (Počet položiek: 2 300 165)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.