Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
DIN EN IEC 60747-5-5:2021-10
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-5. Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.
Norma vydaná dňa 1.10.2021
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (150.30 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
DIN EN IEC 60749-17:2019-11
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-17. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation.
Norma vydaná dňa 1.11.2019
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (43.90 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN IEC 60749-21:2025-04
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-21. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability.
Norma vydaná dňa 1.4.2025
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (28.50 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN IEC 60749-24:2025-04
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-24. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST.
Norma vydaná dňa 1.4.2025
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (20.90 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
DIN EN IEC 60749-26:2018-10
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
Norma vydaná dňa 1.10.2018
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (139.10 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN IEC 60749-26:2025-10
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
Norma vydaná dňa 1.10.2025
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (61.50 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
DIN EN IEC 60749-28:2024-12
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
Norma vydaná dňa 1.12.2024
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (126.90 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
DIN EN IEC 60749-5:2024-09
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-5. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
Norma vydaná dňa 1.9.2024
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (52.60 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN IEC 60749-7:2025-04
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-7. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.
Norma vydaná dňa 1.4.2025
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (20.90 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
DIN EN 60754-1:2021-02
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0482-754-1. Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 1: Determination of the halogen acid gas content.
(Zkouška plynů vznikajících při hoření materiálů z kabelů - Část 1: Stanovení obsahu halogenovodíku.)
Norma vydaná dňa 1.2.2021
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (79.80 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 4990 až 5000 z celkom 29399 záznamov.
Potrebujete pomoc?
