Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
E DIN IEC 60747-5:1996-10
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884. Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices.
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.10.1996
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (136.00 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN 60749-17:2018-07
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-17. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation.
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.7.2018
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (20.90 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
DIN EN 60749-26:2014-09
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 26: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model lidského těla (HBM). .)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.9.2014
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (120.20 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN 60749-26:2017-07
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.7.2017
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (56.70 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
DIN EN 60749-28:2018-02
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 28: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model nabité součástky (CDM) - Úroveň součástky. .)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.2.2018
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (126.90 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN IEC 60749-28:2024-05
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2024
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (56.70 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN 60754-1:2015-02
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0482-754-1. Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 1: Determination of the halogen acid gas content.
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.2.2015
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (28.50 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
DIN EN 60754-1:2015-08
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0482-754-1. Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 1: Determination of the halogen acid gas content.
(Zkouška plynů vznikajících při hoření materiálů z kabelů - Část 1: Stanovení obsahu halogenovodíku.)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.8.2015
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (79.80 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN 60754-1/A1:2019-02
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0482-754-1/A1. Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 1: Determination of the halogen acid gas content.
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.2.2019
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (18.60 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN 60754-2:2015-03
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0482-754-2. Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 2: Determination of acidity (by pH measurement) and conductivity.
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.3.2015
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (28.50 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 23330 až 23340 z celkom 29549 záznamov.
Potrebujete pomoc?
