Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
DIN EN 60747-5-5:2011-11
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-5. Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.
(Polovodičové součástky - Diskrétní součástky - Část 5-5: Optoelektronické součástky - Fotoelektrické vazební členy. .)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.11.2011
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (139.10 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
DIN EN 60747-5-5:2015-11
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-5. Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.
(Polovodičové součástky - Diskrétní součástky - Část 5-5: Optoelektronické součástky - Fotoelektrické vazební členy. .)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.11.2015
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (145.10 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN 60747-5-5:2017-03
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-5. Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.3.2017
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (61.50 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN 60747-5-5/A1:2011-12
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-5/A1. Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.2011
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (18.60 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN IEC 60747-5:1996-10
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884. Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices.
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.10.1996
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (136.00 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN 60749-17:2018-07
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-17. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation.
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.7.2018
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (20.90 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
DIN EN 60749-26:2014-09
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 26: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model lidského těla (HBM). .)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.9.2014
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (120.20 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN 60749-26:2017-07
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.7.2017
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (56.70 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
DIN EN 60749-28:2018-02
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 28: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model nabité součástky (CDM) - Úroveň součástky. .)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.2.2018
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (126.90 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
E DIN EN IEC 60749-28:2024-05
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2024
Vybraný formát: Nemecky - Tlačené (56.70 EUR)
Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 23120 až 23130 z celkom 29220 záznamov.
Potrebujete pomoc?
