Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Nemecké - Ostatné - strana 122" podľa:    


VDI/VDE 2653Blatt1

Multi-agent systems in industrial automation - Fundamentals.

Norma vydaná dňa 1.5.2018

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
104.00


SKLADOM
VDI/VDE 2653Blatt2

Multi-agent systems in industrial automation - Development.

Norma vydaná dňa 1.2.2018

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
104.00


SKLADOM
VDI/VDE 2653Blatt3

Multi-agent systems in industrial automation - Application.

Norma vydaná dňa 1.3.2020

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
128.30


SKLADOM
VDI/VDE 2653Blatt4

Multi-agent systems in industrial automation - Selected patterns for field level control and energy systems.

Norma vydaná dňa 1.2.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
128.30


SKLADOM
VDI/VDE 2653Blatt5

Multi-agent systems in industrial automation - Key performance indicators (KPIs).

Norma vydaná dňa 1.5.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
177.50


SKLADOM
VDI/VDE 2654Blatt2

Characterization and measurement of cutting edges - Terms, characteristics, and parameters.

Norma vydaná dňa 1.6.2020

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
83.80


SKLADOM
VDI/VDE-EE 2654Blatt7

Characterization and measurement of cutting edges - Imperfections of cutting edges.

Norma vydaná dňa 1.2.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
71.90


SKLADOM
VDI/VDE 2655Blatt1.1

Optical measurement and microtopographies - Calibration of interference microscopes and depth measurement standards for roughness measurement.

Norma vydaná dňa 1.1.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
140.90


SKLADOM
VDI/VDE 2655Blatt1.2

Optical measurement of microtopography - Calibration of confocal microscopes and depth setting standards for roughness measurement.

Norma vydaná dňa 1.10.2010

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
128.30


SKLADOM
VDI/VDE 2655Blatt1.3

Optical metrology of microtopographies - Calibration of interferometers and interference microscopes for form measurement.

Norma vydaná dňa 1.2.2020

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
153.20


SKLADOM

Zobrazený záznam od 1210 až 1220 z celkom 29220 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.