Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Asociace IEEE, která se věnuje podpoře inovací a dokonalých technologií v zájmu lidstva, je největší technickou odbornou společností. Jejím účelem je sloužit odborníkům působícím ve všech oblastech elektrotechniky, elektroniky a výpočetních technologií a v souvisejících oborech vědy a technologie, které jsou součástí moderní civilizace. Kořeny společnosti IEEE sahají až do roku 1884, kdy elektřina začala významně ovlivňovat společnost. Tehdy existovalo jedno hlavní zavedené elektrotechnické odvětví, a to telegrafní, díky kterému se od 40. let 19. století propojoval svět prostřednictvím datového komunikačního systému rychleji než dopravou. Telefonní a energetický a lehký průmysl se teprve začal budovat.
IEEE Standard for Performance of Low-Voltage Surge-Protective Devices (Secondary Arresters)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996
Vybraný formát:IEEE Standard Test Specifications for Avalanche Junction Semiconductor Surge Protective Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 31.1.1989
Vybraný formát:IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components
NEPLATNÁ vydaná dňa 31.8.2010
Vybraný formát:IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components--Corrigendum 1
NEPLATNÁ vydaná dňa 12.12.2018
Vybraný formát:IEEE Standard Test Methods for Surge Protectors Used in Low-Voltage Data, Communications, and Signaling Circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.2.1992
Vybraný formát:IEEE Standard Test Methods for Surge Protectors Used in Low-Voltage Data, Communications, and Signaling Circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 31.3.1995
Vybraný formát:IEEE Standard Test Methods for Surge Protectors Used in Low-Voltage Data, Communications, and Signaling Circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 13.10.2000
Vybraný formát:IEEE Standard Test Methods for Surge Protectors Used in Low-Voltage Data, Communications, and Signaling Circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 9.7.2014
Vybraný formát:IEEE Standard Test Specification for Thyristor Diode Surge Protective Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.11.1996
Vybraný formát:IEEE Guide for the Application of Thyristor Surge Protective Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.2001
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 4950 až 4960 z celkom 5101 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-04-16 (Počet položiek: 2 272 849)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.