Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Asociace IEEE, která se věnuje podpoře inovací a dokonalých technologií v zájmu lidstva, je největší technickou odbornou společností. Jejím účelem je sloužit odborníkům působícím ve všech oblastech elektrotechniky, elektroniky a výpočetních technologií a v souvisejících oborech vědy a technologie, které jsou součástí moderní civilizace. Kořeny společnosti IEEE sahají až do roku 1884, kdy elektřina začala významně ovlivňovat společnost. Tehdy existovalo jedno hlavní zavedené elektrotechnické odvětví, a to telegrafní, díky kterému se od 40. let 19. století propojoval svět prostřednictvím datového komunikačního systému rychleji než dopravou. Telefonní a energetický a lehký průmysl se teprve začal budovat.
IEEE Standard Test Methods for Low-Voltage Gas-Tube Surge-Protective Device Components
NEPLATNÁ vydaná dňa 8.12.2006
Vybraný formát:IEEE Standard Test Specifications for Low-Voltage Air Gap Surge-Protective Devices (Excluding Valve and Expulsion Type Devices)
NEPLATNÁ vydaná dňa 11.12.1981
Vybraný formát:IEEE Standard Test Methods for Low-Voltage Air Gap Surge-Protective Device Components (Excluding Valve and Expulsion Types)
NEPLATNÁ vydaná dňa 11.5.2005
Vybraný formát:IEEE Standard Test Specifications for Varistor Surge-Protective Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.11.1981
Vybraný formát:IEEE Standard for Performance of Low-Voltage Surge-Protective Devices (Secondary Arresters)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996
Vybraný formát:IEEE Standard Test Specifications for Avalanche Junction Semiconductor Surge Protective Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 31.1.1989
Vybraný formát:IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components
NEPLATNÁ vydaná dňa 31.8.2010
Vybraný formát:IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components--Corrigendum 1
NEPLATNÁ vydaná dňa 12.12.2018
Vybraný formát:IEEE Standard Test Methods for Surge Protectors Used in Low-Voltage Data, Communications, and Signaling Circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.2.1992
Vybraný formát:IEEE Standard Test Methods for Surge Protectors Used in Low-Voltage Data, Communications, and Signaling Circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 31.3.1995
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 4670 až 4680 z celkom 4818 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2025-05-15 (Počet položiek: 2 200 082)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.