Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Asociace IEEE, která se věnuje podpoře inovací a dokonalých technologií v zájmu lidstva, je největší technickou odbornou společností. Jejím účelem je sloužit odborníkům působícím ve všech oblastech elektrotechniky, elektroniky a výpočetních technologií a v souvisejících oborech vědy a technologie, které jsou součástí moderní civilizace. Kořeny společnosti IEEE sahají až do roku 1884, kdy elektřina začala významně ovlivňovat společnost. Tehdy existovalo jedno hlavní zavedené elektrotechnické odvětví, a to telegrafní, díky kterému se od 40. let 19. století propojoval svět prostřednictvím datového komunikačního systému rychleji než dopravou. Telefonní a energetický a lehký průmysl se teprve začal budovat.
IEEE Standard Method for Measuring the Effectiveness of Electromagnetic Shielding Enclosures
NEPLATNÁ vydaná dňa 28.2.2007
Vybraný formát:IEEE Standard Method for Measuring the Shielding Effectiveness of Enclosures and Boxes Having all Dimensions between 0.1 m and 2 m
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.1.2014
Vybraný formát:AIEE Proposed Standard for Guiding Principles for the Selection of Reference Values for Electrical Standards
NEPLATNÁ vydaná dňa 31.5.1942
Vybraný formát:AIEE Standards for Guiding Principles for the Selection of Reference Values for Electrical Standards
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1943
Vybraný formát:AIEE Guiding Principles for the Selection of Reference Values for Electrical Standards
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.11.1962
Vybraný formát:IEEE Recommended Practice in the Selection of Reference Ambient Conditions for Test Measurements of Electrical Apparatus
NEPLATNÁ vydaná dňa 8.6.1982
Vybraný formát:AIEE Definitions and General Standards for Wires and Cables
NEPLATNÁ vydaná dňa 31.3.1937
Vybraný formát:AIEE American Standard Definitions and General Standards for Wire and Cable
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.11.1943
Vybraný formát:USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.11.1968
Vybraný formát:IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors
NEPLATNÁ vydaná dňa 29.12.1988
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 3150 až 3160 z celkom 5041 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-01-21 (Počet položiek: 2 257 297)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.