Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Asociace IEEE, která se věnuje podpoře inovací a dokonalých technologií v zájmu lidstva, je největší technickou odbornou společností. Jejím účelem je sloužit odborníkům působícím ve všech oblastech elektrotechniky, elektroniky a výpočetních technologií a v souvisejících oborech vědy a technologie, které jsou součástí moderní civilizace. Kořeny společnosti IEEE sahají až do roku 1884, kdy elektřina začala významně ovlivňovat společnost. Tehdy existovalo jedno hlavní zavedené elektrotechnické odvětví, a to telegrafní, díky kterému se od 40. let 19. století propojoval svět prostřednictvím datového komunikačního systému rychleji než dopravou. Telefonní a energetický a lehký průmysl se teprve začal budovat.
IEEE Standard for Digital Test Interchange Format (DTIF)
Norma vydaná dňa 27.1.2017
Vybraný formát:IEEE Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data
Norma vydaná dňa 24.4.2024
Vybraný formát:IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments
Norma vydaná dňa 26.6.2025
Vybraný formát:IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std 1450-1999) for Test Flow Specification
Norma vydaná dňa 31.1.2018
Vybraný formát:IEEE Standard for Memory Modeling in Core Test Language
Norma vydaná dňa 13.6.2014
Vybraný formát:IEEE Standard for a Smart Transducer Interface for Sensors and Actuators--Common Functions, Communication Protocols, and Transducer Electronic Data Sheet (TEDS) Formats
Norma vydaná dňa 26.6.2024
Vybraný formát:ISO/IEC/IEEE International Standard for Information Technology -- Portable Operating System Interface (POSIX(R)) -- Test methods for measuring conformance to POSIX -- Part 1: System interfaces
Norma vydaná dňa 30.11.2000
Vybraný formát:ISO/IEC Standard for Information Technology -- Portable Operating System Interface (POSIX(TM)) -- Test methods for measuring conformance to POSIX -- Part 1: System interfaces -- Amendment 1: Realtime extension (C Language)
Norma vydaná dňa 4.9.2003
Vybraný formát:IEEE Standard for Measurement and Limits of Voltage Fluctuations and Associated Light Flicker on AC Power Systems
Norma vydaná dňa 27.2.2023
Vybraný formát:IEEE Recommended Practice for the Selection, Field Testing, and Life Expectancy of Molded-Case Circuit Breakers for Industrial Applications
Norma vydaná dňa 2.2.2018
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 150 až 160 z celkom 4877 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2025-07-21 (Počet položiek: 2 209 128)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.