Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 5-3: Thin-film organic/nano electronic devices – Measurements of charge carrier concentration
Norma vydaná dňa 14.4.2020
Vybraný formát:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 5-4: Energy band gap measurement of nanomaterials by electron energy loss spectroscopy (EELS)
Norma vydaná dňa 7.12.2022
Vybraný formát:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-1: Graphene-based material - Volume resistivity: four probe method
Norma vydaná dňa 8.7.2020
Vybraný formát:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-10: Graphene-based material - Sheet resistance: Terahertz time-domain spectroscopy
Norma vydaná dňa 14.10.2021
Vybraný formát:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-11: Graphene - Defect density: Raman spectroscopy
Norma vydaná dňa 8.2.2022
Vybraný formát:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-13: Graphene powder - Oxygen functional group content: Boehm titration method
Norma vydaná dňa 28.7.2020
Vybraný formát:Corrigendum 1 - Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-13: Graphene powder - Oxygen functional group content: Boehm titration method
Oprava vydaná dňa 12.10.2020
Vybraný formát:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-14: Graphene-based material - Defect level: Raman spectroscopy
Norma vydaná dňa 27.10.2020
Vybraný formát:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-16: Two-dimensional materials - Carrier concentration: Field effect transistor method
Norma vydaná dňa 17.11.2022
Vybraný formát:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-17: Graphene-based material - Order parameter: X-ray diffraction and transmission electron microscopy
Norma vydaná dňa 3.5.2023
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 9100 až 9110 z celkom 10657 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2024-04-28 (Počet položiek: 2 896 137)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.