IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 773

Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 773

IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy IEC - strana 773" podľa:    


IEC 61967-2-ed.1.0

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method
(Circuits integres - Mesure des emissions electromagnetiques, 150 kHz a 1 GHz - Partie 2: Mesure des emissions rayonnees - Methode de cellule TEM et cellule TEM a large bande)

Norma vydaná dňa 29.9.2005

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
209.50


SKLADOM
IEC/TS 61967-3-ed.2.0

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method
(Circuits integres - Mesure des emissions electromagnetiques - Partie 3: Mesure des emissions rayonnees - Methode de balayage en surface)

Norma vydaná dňa 25.8.2014

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
340.40


SKLADOM
IEC/TR 61967-4-1-ed.1.0

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4-1: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method - Application guidance to IEC 61967-4

Norma vydaná dňa 7.2.2005

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
386.20


SKLADOM
IEC 61967-4-ed.2.0

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method
(Circuits integres - Mesure des emissions electromagnetiques - Partie 4: Mesure des emissions conduites - Methode par couplage direct 1 ohm/150 ohms)

Norma vydaná dňa 16.3.2021

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
386.20


SKLADOM
IEC 61967-4-ed.2.0-RLV

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method

Norma vydaná dňa 16.3.2021

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
657.20


SKLADOM
IEC 61967-6-ed.1.0

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
(Circuits integres - Mesure des emissions electromagnetiques, 150 kHz a 1 GHz - Partie 6: Mesure des emissions conduites - Methode de la sonde magnetique)

Norma vydaná dňa 25.6.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
274.90


SKLADOM
IEC 61967-6-ed.1.0/Amd.1 Zmena

Amendment 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
(Amendement 1 - Circuits integres - Mesure des emissions electromagnetiques, 150 kHz a 1 GHz - Partie 6: Mesure des emissions conduites - Methode de la sonde magnetique)

Zmena vydaná dňa 12.3.2008

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
150.60


SKLADOM
IEC 61967-6-ed.1.0/Cor.1 Oprava

Corrigendum 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
(Corrigendum 1 - Circuits integres - Mesure des emissions electromagnetiques, 150 kHz a 1 GHz - Partie 6: Mesure des emissions conduites - Methode de la sonde magnetique)

Oprava vydaná dňa 30.8.2010

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
1.30


SKLADOM
IEC 61967-6-ed.1.1+Amd.1-CSV

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
(Circuits integres - Mesure des emissions electromagnetiques, 150 kHz a 1 GHz - Partie 6: Mesure des emissions conduites - Methode de la sonde magnetique)

Norma vydaná dňa 24.6.2008

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
726.60


SKLADOM
IEC 61967-8-ed.2.0

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
(Circuits integres - Mesure des emissions electromagnetiques - Partie 8: Mesure des emissions rayonnees - Methode de la ligne TEM a plaques (stripline) pour circuit integre)

Norma vydaná dňa 3.5.2023

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
150.60


SKLADOM

Zobrazený záznam od 7720 až 7730 z celkom 11515 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.