Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 1117
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
IEC/TR 63283-1-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Industrial-process measurement, control and automation - Smart manufacturing - Part 1: Terms and definitions
Norma vydaná dňa 9.3.2022
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC/TS 63283-2-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Industrial-process measurement, control and automation - Smart manufacturing - Part 2: Use cases
Norma vydaná dňa 23.12.2025
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC/TR 63283-3-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Industrial-process measurement, control and automation - Smart manufacturing - Part 3: Challenges for cybersecurity
Norma vydaná dňa 9.3.2022
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC/TR 63283-5-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Industrial-process measurement, control and automation – Smart manufacturing – Part 5: Market and innovation trends analysis
Norma vydaná dňa 20.11.2024
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 63284-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite par la commutation sur charge inductive pour les transistors au nitrure de gallium)
Norma vydaná dňa 21.4.2022
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 63286-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Flexible organic light emitting diode (OLED) panels for general lighting - Performance requirements
(Panneaux a diodes electroluminescentes organiques (OLED) flexibles destines a l´eclairage general - Exigences de performance)
Norma vydaná dňa 28.9.2022
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 63287-1-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification
(Dispositifs a semiconducteurs - Lignes directrices generiques concernant la qualification des semiconducteurs - Partie 1: Lignes directrices concernant la qualification de la fiabilite des circuits integres)
Norma vydaná dňa 25.8.2021
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 63287-2-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
(Dispositifs a semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilite - Partie 2: Concept de profil de mission)
Norma vydaná dňa 29.3.2023
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 63287-3-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 3: Guidelines for reliability qualification plans for power semiconductor module
(Dispositifs a semiconducteurs - Lignes directrices generiques concernant la qualification des semiconducteurs - Partie 3: Lignes directrices pour les plans de qualification de la fiabilite des modules a semiconducteurs de puissance)
Norma vydaná dňa 6.8.2026
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 63287-4-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 4: Early failure assessment
(Dispositifs a semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilite - Partie 4: Evaluation des defaillances precoces)
Norma vydaná dňa 28.8.2026
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 11160 až 11170 z celkom 11594 záznamov.
Potrebujete pomoc?
