IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 1109

Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 1109

IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy IEC - strana 1109" podľa:    


IEC 63267-3-81-ed.1.0

Fibre optic interconnecting devices and passive components - Connector optical interfaces for enhanced macro bend multimode fibre - Part 3-81: Connector parameters of physically contacting 50 µm core diameter fibres - Non-angled polyphenylene sulphide rectangular ferrules with a single row of 12, 8, 4, or 2 fibres for reference connector applications
(Dispositifs d’interconnexion et composants passifs fibroniques - Interfaces optiques des connecteurs pour fibres multimodales ameliorees en macrocourbures - Partie 3-81: Parametres de connexion des fibres d’un diametre de coeur de 50 µm en contact physique - Ferrules rectangulaires non inclinees en polysulfure de phenylene avec une seule rangee de 12, 8, 4 ou 2 fibres, pour les applications de connecteurs de reference)

Norma vydaná dňa 25.6.2025

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
151.50


SKLADOM
IEC/SRD 63268-ed.1.0

Energy and data interfaces of users connected to the smart grid with other smart grid stakeholders - Standardization landscape

Norma vydaná dňa 29.10.2020

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
500.70


SKLADOM
IEC 63269-ed.1.0

Maritime navigation and radiocommunication equipment and systems - Maritime survivor locating devices (man overboard devices) - Minimum requirements, methods of testing and required test results
(Materiels et systemes de navigation et de radiocommunication maritimes - Dispositifs de localisation des survivants en mer (dispositifs en cas d´homme a la mer) - Exigences minimales, methodes d´essai et resultats d´essai exiges)

Norma vydaná dňa 25.5.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
441.40


SKLADOM
IEC 63270-1-ed.1.0

Predictive maintenance of industrial automation equipment and systems - Part 1: General requirements
(Maintenance predictive des equipements et systemes d´automatisation industrielle - Partie 1: Exigences generales)

Norma vydaná dňa 17.4.2025

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
388.70


SKLADOM
IEC 63272-ed.1.0

Nuclear facilities - Electrical power systems - AC interruptible power supply systems
(Installations nucleaires - Systemes d´alimentation electrique - Systemes d´alimentation electrique interruptibles en courant alternatif)

Norma vydaná dňa 7.8.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
441.40


SKLADOM
IEC/SRD 63273-1-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 1: High-level analysis

Norma vydaná dňa 25.8.2023

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
500.70


SKLADOM
IEC/SRD 63273-2-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 2: Use case analysis

Norma vydaná dňa 3.4.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
566.60


SKLADOM
IEC/TR 63274-ed.1.0

Power consumption of high dynamic range television sets

Norma vydaná dňa 5.3.2021

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
388.70


SKLADOM
IEC 63275-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 1: Methode d’essai pour la mesure de la derive de la tension de seuil apres polarisation electrique en temperature)

Norma vydaná dňa 21.4.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
105.40


SKLADOM
IEC 63275-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 2: Methode d’essai de la degradation bipolaire due au fonctionnement de la diode intrinseque)

Norma vydaná dňa 11.5.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
52.70


SKLADOM

Zobrazený záznam od 11080 až 11090 z celkom 11507 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.