Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Graphical symbols for diagrams - Guidance on design for standardization in IEC 60617
Norma vydaná dňa 23.1.2018
Vybraný formát:Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Norma vydaná dňa 15.9.2017
Vybraný formát:Amendment 1 - Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Zmena vydaná dňa 3.6.2022
Vybraný formát:Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Norma vydaná dňa 3.6.2022
Vybraný formát:Low-voltage docking connectors for removable energy storage units
Norma vydaná dňa 22.3.2017
Vybraný formát:
Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)
Norma vydaná dňa 24.6.2020
Vybraný formát:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
Norma vydaná dňa 30.1.2019
Vybraný formát:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
Norma vydaná dňa 30.1.2019
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
(Dispositifs a semiconducteurs - Criteres de reconnaissance non destructifs des defauts au sein d’une plaquette homoepitaxiale de carbure de silicium pour des dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Methode d’essai pour les defauts a l’aide de la photoluminescence)
Norma vydaná dňa 13.7.2020
Vybraný formát:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
Norma vydaná dňa 27.7.2022
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 10650 až 10660 z celkom 11363 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2025-12-21 (Počet položiek: 2 252 887)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.