IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 1063

Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 1063

IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy IEC - strana 1063" podľa:    


IEC 63267-2-2-ed.1.0

Fibre optic interconnecting devices and passive components - Connector optical interfaces for enhanced macro bend multimode fibres - Part 2-2: Connection parameters of physically contacting 50 µm core diameter fibres - Non-angled and angled for reference connector applications
(Dispositifs d´interconnexion et composants passifs fibroniques – Interfaces optiques de connecteurs pour fibre multimodale a performances ameliorees par macrocourbures – Partie 2-2: Parametres de connexion de fibres de diametre de cour de 50 µm en contact physique - Fibres inclinees et non inclinees pour les applications de connecteurs de reference)

Norma vydaná dňa 15.3.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
102.00


SKLADOM
IEC/PAS 63267-3-30-ed.1.0

Fibre optic interconnecting devices and passive components - Fibre optic connector optical interfaces - Part 3-30: End face geometry - Angled PC end face PPS rectangular ferrule multimode A1b fibres

Norma vydaná dňa 27.5.2021

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
51.00


SKLADOM
IEC/PAS 63267-3-31-ed.1.0

Fibre optic interconnecting devices and passive components - Fibre optic connector optical interfaces - Part 3-31: End face geometry - Flat PC PPS rectangular ferrule multimode fibres

Norma vydaná dňa 7.2.2020

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
102.00


SKLADOM
IEC/SRD 63268-ed.1.0

Energy and data interfaces of users connected to the smart grid with other smart grid stakeholders - Standardization landscape

Norma vydaná dňa 29.10.2020

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
439.70


SKLADOM
IEC 63269-ed.1.0

Maritime navigation and radiocommunication equipment and systems - Maritime survivor locating devices (man overboard devices) - Minimum requirements, methods of testing and required test results
(Materiels et systemes de navigation et de radiocommunication maritimes - Dispositifs de localisation des survivants en mer (dispositifs en cas d´homme a la mer) - Exigences minimales, methodes d´essai et resultats d´essai exiges)

Norma vydaná dňa 25.5.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
382.30


SKLADOM
IEC 63272-ed.1.0

Nuclear facilities - Electrical power systems - AC interruptible power supply systems
(Installations nucleaires - Systemes d´alimentation electrique - Systemes d´alimentation electrique interruptibles en courant alternatif)

Norma vydaná dňa 7.8.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
382.30


SKLADOM
IEC/SRD 63273-1-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 1: High-level analysis

Norma vydaná dňa 25.8.2023

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
439.70


SKLADOM
IEC/SRD 63273-2-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 2: Use case analysis

Norma vydaná dňa 3.4.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
509.80


SKLADOM
IEC/TR 63274-ed.1.0

Power consumption of high dynamic range television sets

Norma vydaná dňa 5.3.2021

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
344.10


SKLADOM
IEC 63275-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 1: Methode d’essai pour la mesure de la derive de la tension de seuil apres polarisation electrique en temperature)

Norma vydaná dňa 21.4.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
102.00


SKLADOM

Zobrazený záznam od 10620 až 10630 z celkom 10842 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.