Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Electric energy supply networks - General aspects and methods for the maintenance of installations and equipment
Norma vydaná dňa 15.2.2019
Vybraný formát:Adjusted volume calculation for refrigerating appliances
Norma vydaná dňa 22.5.2017
Vybraný formát:Graphical symbols for diagrams - Guidance on design for standardization in IEC 60617
Norma vydaná dňa 23.1.2018
Vybraný formát:Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Norma vydaná dňa 15.9.2017
Vybraný formát:Amendment 1 - Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Zmena vydaná dňa 3.6.2022
Vybraný formát:Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Norma vydaná dňa 3.6.2022
Vybraný formát:Low-voltage docking connectors for removable energy storage units
Norma vydaná dňa 22.3.2017
Vybraný formát:
Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)
Norma vydaná dňa 24.6.2020
Vybraný formát:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
Norma vydaná dňa 30.1.2019
Vybraný formát:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
Norma vydaná dňa 30.1.2019
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 10490 až 10500 z celkom 11110 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2025-05-11 (Počet položiek: 2 199 037)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.