Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Norma vydaná dňa 15.9.2017
Vybraný formát:Amendment 1 - Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Zmena vydaná dňa 3.6.2022
Vybraný formát:Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Norma vydaná dňa 3.6.2022
Vybraný formát:Low-voltage docking connectors for removable energy storage units
Norma vydaná dňa 22.3.2017
Vybraný formát:
Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)
Norma vydaná dňa 24.6.2020
Vybraný formát:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
Norma vydaná dňa 30.1.2019
Vybraný formát:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
Norma vydaná dňa 30.1.2019
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
(Dispositifs a semiconducteurs - Criteres de reconnaissance non destructifs des defauts au sein d’une plaquette homoepitaxiale de carbure de silicium pour des dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Methode d’essai pour les defauts a l’aide de la photoluminescence)
Norma vydaná dňa 13.7.2020
Vybraný formát:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
Norma vydaná dňa 27.7.2022
Vybraný formát:Industrial-process measurement, control and automation - Framework for functional safety and security
Norma vydaná dňa 20.5.2019
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 10330 až 10340 z celkom 10842 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2024-09-04 (Počet položiek: 2 346 114)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.