Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "IEC - Všetky - strana 1110" podľa:    


IEC 63270-1-ed.1.0

Predictive maintenance of industrial automation equipment and systems - Part 1: General requirements
(Maintenance predictive des equipements et systemes d´automatisation industrielle - Partie 1: Exigences generales)

Norma vydaná dňa 17.4.2025

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
384.10


SKLADOM
IEC 63272-ed.1.0

Nuclear facilities - Electrical power systems - AC interruptible power supply systems
(Installations nucleaires - Systemes d´alimentation electrique - Systemes d´alimentation electrique interruptibles en courant alternatif)

Norma vydaná dňa 7.8.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
436.20


SKLADOM
IEC/SRD 63273-1-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 1: High-level analysis

Norma vydaná dňa 25.8.2023

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
494.80


SKLADOM
IEC/SRD 63273-2-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 2: Use case analysis

Norma vydaná dňa 3.4.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
559.90


SKLADOM
IEC/TR 63274-ed.1.0

Power consumption of high dynamic range television sets

Norma vydaná dňa 5.3.2021

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
384.10


SKLADOM
IEC 63275-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 1: Methode d’essai pour la mesure de la derive de la tension de seuil apres polarisation electrique en temperature)

Norma vydaná dňa 21.4.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
104.20


SKLADOM
IEC 63275-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 2: Methode d’essai de la degradation bipolaire due au fonctionnement de la diode intrinseque)

Norma vydaná dňa 11.5.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
52.10


SKLADOM
IEC/TS 63276-ed.1.0

Guidelines for the hosting capacity evaluation of distribution networks for distributed energy resources

Norma vydaná dňa 17.9.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
273.40


SKLADOM
IEC 63277-3-1-ed.1.0

Binary power generation systems - Part 3-1: Safety requirements - System with less than 500 kW in capacity

Norma vydaná dňa 20.2.2025

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
273.40


SKLADOM
IEC 63277-ed.1.0

Binary power generation systems with capacity less than 100 kW - Performance test methods

Norma vydaná dňa 10.11.2021

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
149.70


SKLADOM

Zobrazený záznam od 11090 až 11100 z celkom 11515 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.