Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "IEC - Všetky - strana 1074" podľa:    


IEC/TR 63065-ed.1.0/Amd.1 Zmena

Amendment 1 - Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station

Zmena vydaná dňa 3.6.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
26.20


SKLADOM
IEC/TR 63065-ed.1.1+Amd.1-CSV

Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station

Norma vydaná dňa 3.6.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
714.50


SKLADOM
IEC/TS 63066-ed.1.0

Low-voltage docking connectors for removable energy storage units

Norma vydaná dňa 22.3.2017

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
386.80


SKLADOM
IEC 63067-ed.1.0

Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)

Norma vydaná dňa 24.6.2020

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
209.80


SKLADOM
IEC 63068-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects

Norma vydaná dňa 30.1.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
209.80


SKLADOM
IEC 63068-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection

Norma vydaná dňa 30.1.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
209.80


SKLADOM
IEC 63068-3-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
(Dispositifs a semiconducteurs - Criteres de reconnaissance non destructifs des defauts au sein d’une plaquette homoepitaxiale de carbure de silicium pour des dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Methode d’essai pour les defauts a l’aide de la photoluminescence)

Norma vydaná dňa 13.7.2020

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
275.30


SKLADOM
IEC 63068-4-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence

Norma vydaná dňa 27.7.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
209.80


SKLADOM
IEC/TR 63069-ed.1.0

Industrial-process measurement, control and automation - Framework for functional safety and security

Norma vydaná dňa 20.5.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
275.30


SKLADOM
IEC/TS 63070-ed.1.0

Ultrasonics - Field characterization - Infrared imaging techniques for determining temperature elevation in tissue-mimicking material and at the radiation surface of a transducer in still air

Norma vydaná dňa 15.2.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
275.30


SKLADOM

Zobrazený záznam od 10730 až 10740 z celkom 11501 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.