Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Methods for Testing and Specification (MTS); The Testing and Test Control Notation version 3; Part 7: Using ASN.1 with TTCN-3
Norma vydaná dňa 12.5.2017
Vybraný formát:Methods for Testing and Specification (MTS); The Testing and Test Control Notation version 3; Part 7: Using ASN.1 with TTCN-3
Norma vydaná dňa 7.5.2018
Vybraný formát:Methods for Testing and Specification (MTS); The Testing and Test Control Notation version 3; Part 7: Using ASN.1 with TTCN-3
Norma vydaná dňa 4.5.2020
Vybraný formát:Methods for Testing and Specification (MTS); The Testing and Test Control Notation version 3; Part 7: Using ASN.1 with TTCN-3
Norma vydaná dňa 19.5.2021
Vybraný formát:Methods for Testing and Specification (MTS); The Testing and Test Control Notation version 3; Part 8: The IDL to TTCN-3 Mapping
Norma vydaná dňa 23.2.2007
Vybraný formát:Methods for Testing and Specification (MTS); The Testing and Test Control Notation version 3; Part 8: The IDL to TTCN-3 Mapping
Norma vydaná dňa 11.4.2008
Vybraný formát:Methods for Testing and Specification (MTS); The Testing and Test Control Notation version 3; Part 8: The IDL to TTCN-3 Mapping
Norma vydaná dňa 28.7.2010
Vybraný formát:Methods for Testing and Specification (MTS); The Testing and Test Control Notation version 3; Part 8: The IDL to TTCN-3 Mapping
Norma vydaná dňa 10.6.2011
Vybraný formát:Methods for Testing and Specification (MTS); The Testing and Test Control Notation version 3; Part 8: The IDL to TTCN-3 Mapping
Norma vydaná dňa 12.4.2012
Vybraný formát:Methods for Testing and Specification (MTS); The Testing and Test Control Notation version 3; Part 8: The IDL to TTCN-3 Mapping
Norma vydaná dňa 30.4.2013
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 59830 až 59840 z celkom 67112 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-07-01 (Počet položiek: 2 285 809)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.