GB - Čínské národní normy - strana 8459

Normy GB - Čínské národní normy - strana 8459

Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy GB - strana 8459" podľa:    


GB/T 6611-1986 NEPLATNÁ

Terminology for titanium and titanium alloy

NEPLATNÁ vydaná dňa 24.7.1986

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
285.80


do 3 pracovných dní
GB/T 6612-1986 NEPLATNÁ

Titanium alloy TA7 sheet and plate for important applications

NEPLATNÁ vydaná dňa 24.7.1986

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
203.80


do 2 pracovných dní
GB/T 6613-1986 NEPLATNÁ

Titanium alloy TC4 sheet and plate for important applications

NEPLATNÁ vydaná dňa 24.7.1986

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
203.80


do 2 pracovných dní
NA OTÁZKU


Nie je na sklade
GB/T 6614-1994 NEPLATNÁ

Titanium and titanium alloy castings

NEPLATNÁ vydaná dňa 9.5.1994

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
203.80


do 2 pracovných dní
GB 6615-1986 NEPLATNÁ

Standard method for resistivity of silicon slices with collinear four-probe array measuring

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
613.60


do 4 pracovných dní
GB 6616-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring resistivity of silicon slices by noncontacting technique

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
203.80


do 2 pracovných dní
GB/T 6616-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
285.80


do 3 pracovných dní
GB/T 6616-2009 NEPLATNÁ

Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.10.2009

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
326.80


do 3 pracovných dní
GB 6617-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
203.80


do 2 pracovných dní

Zobrazený záznam od 84580 až 84590 z celkom 90914 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.