Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy GB - Čínské národní normy - strana 7966
Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
GB/T 34333-2017
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Refractory products—Determination by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry(ICP-AES)
NEPLATNÁ vydaná dňa 29.9.2017
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 3434-1986
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Families and products of ECL circuits for semiconductor integrated circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 2.4.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 3435-1987
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Series and products for semiconductor CMOS integrated circuits—Products of families 4000
NEPLATNÁ vydaná dňa 21.1.1987
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB 3436-1986
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Families and variety of operational amplifier for semiconductor integrated circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 34361-2017
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Non-destructive testing—Test method for frequency scanning eddy current testing
NEPLATNÁ vydaná dňa 14.10.2017
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 34365-2017
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Non-destructive testing—Terminology—Terms used in industrial computed tomography testing
NEPLATNÁ vydaná dňa 29.9.2017
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 3437-1982
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Families and products of MOS memory for semiconductor integrated circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1982
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 3438-1982
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Families and products of bipolar memory for semiconductor integrated circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1982
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB 3439-1982
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
General principles of measuring methods of TTL circuits for semiconductor integrated circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1982
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 34399-2017
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Temperature control facilities of pharmaceutical products cold chain logistics—Specification for performance qualification
NEPLATNÁ vydaná dňa 14.10.2017
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 79650 až 79660 z celkom 94552 záznamov.
Potrebujete pomoc?
