Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy GB - Čínské národní normy - strana 373
Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
GB/T 14124-2024
Zobraziť všetky technické informácie
Mechanical vibration and shock—Vibration of fixed structures—Guidelines for the measurement of vibrations and evaluation of their effects on structures
Norma vydaná dňa 31.12.2024
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 1413-2023
Zobraziť všetky technické informácie
Series 1 freight containers—Classification,dimensions and ratings
Norma vydaná dňa 17.3.2023
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14139-2019
Zobraziť všetky technické informácie
Silicon epitaxial wafers
Norma vydaná dňa 4.6.2019
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 1414-2013
Zobraziť všetky technické informácie
General purpose metric screw threads - The plan for pipe systems
Norma vydaná dňa 9.6.2013
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14140-2025
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
Norma vydaná dňa 1.8.2025
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14141-2009
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14142-2017
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon—Etching technique
Norma vydaná dňa 29.9.2017
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14144-2009
Zobraziť všetky technické informácie
Testing method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14146-2021
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method
Norma vydaná dňa 21.5.2021
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 3720 až 3730 z celkom 94552 záznamov.
Potrebujete pomoc?
