Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy GB - Čínské národní normy - strana 2031
Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
GB/T 26062-2010
Zobraziť všetky technické informácie
Niobium and niobium-zirconium alloy wire
Norma vydaná dňa 10.1.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 26063-2023
Zobraziť všetky technické informácie
Beryllium aluminium alloy
Norma vydaná dňa 6.8.2023
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 26064-2010
Zobraziť všetky technické informácie
Lithium wafers
Norma vydaná dňa 10.1.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 26065-2010
Zobraziť všetky technické informácie
Specification for polished test silicon wafers
Norma vydaná dňa 10.1.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 26066-2010
Zobraziť všetky technické informácie
practice for shallow etch pit detection on silicon
Norma vydaná dňa 10.1.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 26067-2010
Zobraziť všetky technické informácie
Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers
Norma vydaná dňa 10.1.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 26068-2018
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method
Norma vydaná dňa 28.12.2018
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 26069-2022
Zobraziť všetky technické informácie
Annealed monocrystalline silicon wafers
Norma vydaná dňa 9.3.2022
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 26070-2010
Zobraziť všetky technické informácie
Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method
Norma vydaná dňa 10.1.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 26071-2026
Zobraziť všetky technické informácie
Monocrystalline silicon and wafers for solar cells
Norma vydaná dňa 28.1.2026
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 20300 až 20310 z celkom 94552 záznamov.
Potrebujete pomoc?
