Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy GB - Čínské národní normy - strana 1839
Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
GB/T 24573-2009
Zobraziť všetky technické informácie
Fire resistance tests for vault and file room doors
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 24574-2009
Zobraziť všetky technické informácie
Test methods for photoluminescence analysis of single crystal silicon for III-V impurities
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 24575-2009
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for measuring surface sodium,aluminum,potassium,and iron on silicon and epi substrates by secondary ion mass spectrometry
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 24576-2009
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 24577-2009
Zobraziť všetky technické informácie
Test methods for analyzing organic contaminants on silicon wafer surfaces by thermal desorption gas chromatography
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 24578-2024
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for measuring surface metal contamination on semiconductor wafers —Total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
Norma vydaná dňa 24.7.2024
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 24579-2009
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-atomic absorption spectroscopy
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 24580-2009
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for measuring boron contamination in heavily doped n-type silicon substrates by secondary ion mass spectrometry
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 24581-2022
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for and impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
Norma vydaná dňa 9.3.2022
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 24582-2023
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for measuring surface metal impurity content of polycrystalline silicon—Acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry method
Norma vydaná dňa 6.8.2023
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 18380 až 18390 z celkom 94224 záznamov.
Potrebujete pomoc?
