Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test method for average linear thermal expansion of electronic glass
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Test method for thermal shock of electronic glass
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Test method for softening point of electronic glass
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Test method for annealing point and strain point of electronic glass
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Test method for viscosity of electronic glass while high temperature
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Test method for impact resistance strength of electronic glass
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Test method for temperature (Tk-100) -- volume resistivity of electronic glass
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Test method for high frequency dielectric losses and dielectric constant of electronic glass
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Inductor and transformer cores for telecommunications--Part 1:Generic specification
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.6.1988
Vybraný formát:Inductor and transformer cores for telecommunications--Part 2: sectional specification: Magnetic oxide cores for inductor applications
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.6.1988
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 94300 až 94310 z celkom 95082 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-10-22 (Počet položiek: 2 207 753)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.