Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Micrographics—Ouality criteria and control of micrography of technical drawings and documentations
NEPLATNÁ vydaná dňa 27.3.1998
Vybraný formát:Micrographics—Reflectance test target used in the test target for inspecting the quality of micrography of technical drawing
NEPLATNÁ vydaná dňa 11.4.1988
Vybraný formát:Nomenclature for the type of nuclear instruments
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Test procedures for Si(Li) X-ray--Detector systems
NEPLATNÁ vydaná dňa 12.4.1988
Vybraný formát:-
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Basic environmental testing procedures of nuclear instruments--General program
NEPLATNÁ vydaná dňa 7.3.1988
Vybraný formát:-
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:-
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:-
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:-
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 92560 až 92570 z celkom 94552 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-09-15 (Počet položiek: 2 301 408)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.