Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Compound semiconductive single crystals--Determination of crzystallographic orientation--X-ray diffraction method
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Gallium arsenide single crystal—Determination of dislocation density
NEPLATNÁ vydaná dňa 25.2.1988
Vybraný formát:Gallium arsenide single crystal—Determination of dislocation density
NEPLATNÁ vydaná dňa 18.7.2006
Vybraný formát:Determination of particle size distribution of yttrium oxide and europium oxide by sedimentation and light obscuration method
NEPLATNÁ vydaná dňa 25.2.1988
Vybraný formát:Yttrium oxide and europium oxide of phosphor grade—Determination of total rare earth oxide content—EDTA volumetric method
NEPLATNÁ vydaná dňa 25.2.1988
Vybraný formát:Yttrium oxide and europium oxide of phosphor grade—Determination of calcium oxide content—N2O-C2H2 flame atomic absorption spectrophotometric method
NEPLATNÁ vydaná dňa 25.2.1988
Vybraný formát:Yttrium oxide of phosphor grade--Determination of acid soluble silicon dioxide--Molybdenum blue photometric method
NEPLATNÁ vydaná dňa 25.2.1988
Vybraný formát:Yttrium oxide of phosphor grade--Determination of iron oxide, lead oxide, nickel oxide and copper oxide contents--Emission spectrographic method
NEPLATNÁ vydaná dňa 25.2.1988
Vybraný formát:Yttrium oxide of phosphor grade—Determination of trace rare earth oxide contents—Spectrochemical method and direct spectrographic method
NEPLATNÁ vydaná dňa 25.2.1988
Vybraný formát:Europium oxide of phosphor grade--Determination of lead oxide, nickel oxide, iron oxide and copper oxide contents--Emission spectrographic method
NEPLATNÁ vydaná dňa 25.2.1988
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 89380 až 89390 z celkom 91717 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-06-21 (Počet položiek: 2 283 476)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.