Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
General specification of electron probe microanalysis standard specimen
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.8.1993
Vybraný formát:Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Guidelines for the specification of certified reference materials(CRMs)
NEPLATNÁ vydaná dňa 11.4.2008
Vybraný formát:The series and type spectrum for helium neon lasers
NEPLATNÁ vydaná dňa 3.1.2000
Vybraný formát:The series and type spectrum for carbon dioxide lasers
NEPLATNÁ vydaná dňa 3.1.2000
Vybraný formát:Field vane shear apparatus
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1985
Vybraný formát:-
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1985
Vybraný formát:Strain-controlled direct shear apparatus
NEPLATNÁ vydaná dňa 13.12.1996
Vybraný formát:-
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1985
Vybraný formát:Single lever arm oedometer
NEPLATNÁ vydaná dňa 13.12.1996
Vybraný formát:Mechanical and climatic test methods for discrete semiconductor devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1985
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 84130 až 84140 z celkom 95082 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-10-27 (Počet položiek: 2 208 060)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.