Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Measuring methods for field-effect transistors
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1984
Vybraný formát:Measuring methods for bipolar transistors
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1984
Vybraný formát:Semiconductor discrete devices and integrated circuits—Part 7:Bipolar transistors
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.12.1994
Vybraný formát:Specification for single and double sided printed boards with plain holes
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1984
Vybraný formát:Sectional specification:single and doublesided printed boards with plain holes
NEPLATNÁ vydaná dňa 31.3.1996
Vybraný formát:Specification for single and double sided printed boards with plated-through holes
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1984
Vybraný formát:Sectional specification:single and doublesided printed boards with plated-through holes
NEPLATNÁ vydaná dňa 31.3.1996
Vybraný formát:Design and use of printed boards
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Specification for multilayer printed boards
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1988
Vybraný formát:Sectional specification—Multilayer printed boards
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.12.1996
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 82140 až 82150 z celkom 94224 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-09-11 (Počet položiek: 2 300 165)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.