Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "GB - Všetky - strana 460" podľa:    


GB/T 14847-2025

Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates—Infrared reflectance method

Norma vydaná dňa 31.10.2025

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
209.30


do 3 pracovných dní
GB/T 14848-2017

Standard for groundwater quality

Norma vydaná dňa 14.10.2017

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
152.50


SKLADOM
GB/T 14849.1-2020

Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 1Determination of iron content

Norma vydaná dňa 6.3.2020

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
163.00


SKLADOM
GB/T 14849.10-2016

Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 10Determination of mercury content—Atomic fluorescence spectrometry method

Norma vydaná dňa 29.8.2016

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
230.30


do 3 pracovných dní
GB/T 14849.11-2016

Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 11Determination of chromium content—1,5-Diphenylcarbohydrazide spectrophotometric method

Norma vydaná dňa 29.8.2016

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
146.20


do 3 pracovných dní
GB/T 14849.2-2007

Methods for chemical analysis of silicon metal - Part 2Determination of aluminum content - Chrome azurol S spectrophotometric method

Norma vydaná dňa 25.10.2007

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
94.70


SKLADOM
GB/T 14849.3-2020

Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 3Determination of calcium content

Norma vydaná dňa 6.3.2020

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
163.00


SKLADOM
GB/T 14849.4-2014

Methods for chemical analysis of silicon metalPart 4Determination of impurity contentsInductively coupled plasma atomic emission spectrometric method

Norma vydaná dňa 5.12.2014

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
136.70


SKLADOM
GB/T 14849.5-2014

Methods for chemical analysis of silicon metalPart 5Determination of impurity contentsX-ray fluorescence method

Norma vydaná dňa 5.12.2014

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
178.80


SKLADOM
GB/T 14849.6-2014

Methods for chemical analysis of silicon metalPart 6Determination of carbonInfrared absorption method

Norma vydaná dňa 5.12.2014

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
146.20


do 3 pracovných dní

Zobrazený záznam od 4590 až 4600 z celkom 94552 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.