Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Series 1 freight containers—Classification,dimensions and ratings
Norma vydaná dňa 17.3.2023
Vybraný formát:Silicon epitaxial wafers
Norma vydaná dňa 4.6.2019
Vybraný formát:General purpose metric screw threads - The plan for pipe systems
Norma vydaná dňa 9.6.2013
Vybraný formát:Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
Norma vydaná dňa 1.8.2025
Vybraný formát:Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon—Etching technique
Norma vydaná dňa 29.9.2017
Vybraný formát:Testing method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method
Norma vydaná dňa 21.5.2021
Vybraný formát:Glass blank of ophthalmic lenses
Norma vydaná dňa 16.6.2011
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 3670 až 3680 z celkom 90914 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-05-13 (Počet položiek: 2 276 848)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.