Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BSi - Společnost BSI British Standards je národním standardizačním úřadem Spojeného království (NSB) a jako taková byla i první na světě. Zastupuje ekonomické a společenské zájmy Spojeného království ve všech evropských a mezinárodních standardizačních organizacích i v rámci vývoje řešení podnikových informací pro britské organizace všech velikostí a oborů. Společnost BSI British Standards spolupracuje s výrobním průmyslem a průmyslem služeb, s podniky, s vládami i spotřebiteli tak, aby usnadnila tvorbu britských, evropských i mezinárodních norem. Součást organizace BSI Group, společnost BSI British Standards, úzce spolupracuje s vládou Spojeného královtsví, zejména skrze Oddělení pro inovace, univerzity a dovednosti (DIUS).
Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: microwave detector diodes.
NEPLATNÁ vydaná dňa 5.2.1971
Vybraný formát:Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: p-i-n microwave passive limiter diodes.
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.4.1990
Vybraný formát:Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: p-i-n microwave active switching diodes.
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.4.1976
Vybraný formát:Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: microwave Gunn oscillators (c.w. operation).
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.9.1977
Vybraný formát:Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: microwave Gunn oscillators (pulse operation).
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.9.1977
Vybraný formát:Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: microwave avalanche oscillators (c.w. operation).
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.10.1977
Vybraný formát:Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: microwave avalanche oscillators (pulse operation).
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.10.1977
Vybraný formát:Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: varactor diodes for frequency multiplication.
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.1988
Vybraný formát:
Tests for geometrical properties of aggregates. Determination of particle size distribution. Sieving method.
(Zkoušení geometrických vlastností kameniva - Část 1: Stanovení zrnitosti - Sítový rozbor.)
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.3.2006
Vybraný formát:
Tests for geometrical properties of aggregates. Assessment of fines. Grading of fillers (air-jet sieving).
(Zkoušení geometrických vlastností kameniva - Část 10: Posouzení jemných částic - Zrnitost filerů (prosévání proudem vzduchu).)
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.5.2001
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 85340 až 85350 z celkom 86126 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2024-07-21 (Počet položiek: 2 338 123)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.