Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: medium current general purpose thyristors (1-100 ampere rating).

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.4.1973

Optics and optical instruments. Contact lenses. Determination of inclusions and surface imperfections for rigid contact lenses.

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.9.1998

Optics and optical instruments. Test lenses for calibration of focimeters. Test lenses for focimeters used for measuring spectacle lenses.
(Optika a optické přístroje - Zkušební čočky pro kalibraci fokometrů - Část 1: Zkušební čočky pro fokometry používané pro měření čoček brýlí.)

NEPLATNÁ vydaná dňa 13.7.2005

Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: high current general purpose thyristors (greater than 50 ampere rating).

NEPLATNÁ vydaná dňa 17.8.1972

Optics and optical instruments. Test lenses for calibration of focimeters.
(Optika a optické přístroje - Zkušební čočky pro kalibraci fokometrů.)

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.12.1996

Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: case rated bi-directional triode thyristors (triacs).

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.1989

Pliers and nippers. Slip joint pliers. Dimensions and test values.

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2004

Microscopes. Graticules for eyepieces.

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.11.2011

Microscopes. Imaging distances related to mechanical reference planes. Tube length 160 mm.

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.6.2012

Optics and optical instruments. Microscopes. Imaging distances related to mechanical reference planes. Infinity-corrected optical systems.

NEPLATNÁ vydaná dňa 24.6.2003