Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Tests for geometrical properties of aggregates. Determination of particle shape. Shape index.
(Zkoušení geometrických vlastností kameniva - Část 4: Stanovení tvaru zrn - Tvarový index.)
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.1.2000
Vybraný formát:
Tests for geometrical properties of aggregates. Determination of percentage of crushed and broken surfaces in coarse aggregate particles.
(Zkoušení geometrických vlastností kameniva - Část 5: Stanovení podílu drcených zrn v hrubém kamenivu.)
NEPLATNÁ vydaná dňa 11.5.2005
Vybraný formát:
Tests for geometrical properties of aggregates. Assessment of surface characteristics. Flow coefficient of aggregates.
(Zkoušení geometrických vlastností kameniva - Část 6: Posouzení povrchových charakteristik - Tekutost kameniva.)
NEPLATNÁ vydaná dňa 18.8.2004
Vybraný formát:
Tests for geometrical properties of aggregates. Assessment of surface characteristics. Flow coefficient of aggregates.
(Zkoušení geometrických vlastností kameniva - Část 6: Posouzení povrchových charakteristik - Tekutost kameniva.)
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.4.2014
Vybraný formát:
Tests for geometrical properties of aggregates. Assessment of fines. Sand equivalent test.
(Zkoušení geometrických vlastností kameniva - Část 8: Posouzení jemných částic - Zkouška ekvivalentu písku.)
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.7.1999
Vybraný formát:
Tests for geometrical properties of aggregates. Assessment of fines. Methylene blue test.
(Zkoušení geometrických vlastností kameniva - Část 9: Posouzení jemných částic - Zkouška methylenovou modří.)
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.4.1999
Vybraný formát:
Tests for geometrical properties of aggregates. Assessment of fines. Methylene blue test.
(Zkoušení geometrických vlastností kameniva - Část 9: Posouzení jemných částic - Zkouška methylenovou modří.)
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.4.2013
Vybraný formát:Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: low current rectifier diodes (up to 3 ampere rating).
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.9.1969
Vybraný formát:Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: medium current rectifier diodes (1-100 ampere rating).
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.9.1969
Vybraný formát:Detail specification for medium current rectifier diodes. 3 A, 300 V, 600 V, 900 V, 1200 V, hermetically sealed. Full assessment level.
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.6.1974
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 89200 až 89210 z celkom 89988 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-04-24 (Počet položiek: 2 274 650)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.