Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "BS - Národné - Všetky - strana 8008" podľa:    


BS IEC 60747-9:1998 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Discrete devices. Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs).

NEPLATNÁ vydaná dňa 17.1.2003

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
393.60


SKLADOM
BS IEC 60747-9:2007 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Discrete devices. Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs).

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.11.2007

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
364.10


SKLADOM
BS IEC 60748-2-20:2000 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits. Family specification. Low voltage integrated circuits.

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.4.2001

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
160.50


SKLADOM
BS EN 60749-10:2002 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 10: Mechanické údery. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydaná dňa 17.9.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
160.50


SKLADOM
BS EN 60749-12:2002 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 12: Vibrace, proměnlivý kmitočet. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.9.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
160.50


SKLADOM
BS EN 60749-13:2002 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 13: Solné ovzduší. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydaná dňa 17.9.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
160.50


SKLADOM
BS EN 60749-15:2003 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 15: Odolnost proti teplu při pájení součástek montovaných přes průchozí otvor. )

NEPLATNÁ vydaná dňa 19.6.2003

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
160.50


SKLADOM
BS EN 60749-15:2010 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 15: Odolnost proti teplu při pájení součástek montovaných přes průchozí otvor. )

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.6.2011

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
160.50


SKLADOM
BS EN 60749-17:2003 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron irradiation.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 17: Neutronové záření. )

NEPLATNÁ vydaná dňa 29.6.2004

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
160.50


SKLADOM
BS EN 60749-18:2003 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Ionizing radiation (total dose).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 18: Ionizující záření (celková dávka).)

NEPLATNÁ vydaná dňa 7.7.2004

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
187.70


SKLADOM

Zobrazený záznam od 80070 až 80080 z celkom 90786 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.