SAE - Americké normy - strana 4387

Normy SAE - Americké normy - strana 4387

SAE - Společnost SAE International je celosvětové společenství více než 128 000 inženýrů a podobných technických odborníků z oblasti kosmického a leteckého průmyslu, automobilového průmyslu a průmyslu s užitkovými vozidly. Hlavní činností společnosti SAE International je celoživotní studium a vývoj norem stanovených na principu vzájemné shody. Společnost SAE International má svoji charitativní odnož Nadaci SAE (SAE Foundation), která podporuje mnoho programů, včetně programu Svět v pohybu (A World In Motion®) a programu Školní projekty (Collegiate Design Series).

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy SAE - strana 4387" podľa:    


SAE J175 Neaktuálna

Wheels - Lateral Impact Test Procedure - Road Vehicles

Neaktuálna vydaná dňa 1.7.2021

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
105.20


SKLADOM
SAE J175 Neaktuálna

WHEELS — PASSENGER CARS — IMPACT PERFORMANCE REQUIREMENTS AND TEST PROCEDURES

Neaktuálna vydaná dňa 1.9.1970

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.60


SKLADOM
SAE J175 Neaktuálna

Wheels—Impact Test Procedure—Road Vehicles

Neaktuálna vydaná dňa 1.9.2003

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.60


SKLADOM
SAE J1750 Neaktuálna

Describing and Evaluating the Truck Driver´s Viewing Environment

Neaktuálna vydaná dňa 1.10.2010

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
135.90


SKLADOM
SAE J1750 Neaktuálna

DESCRIBING AND EVALUATING THE TRUCK DRIVER´S VIEWING ENVIRONMENT

Neaktuálna vydaná dňa 1.3.1995

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
117.90


SKLADOM
SAE J1752/1 Neaktuálna

Electromagnetic Compatibility Measurement Procedures for Integrated Circuits—Integrated Circuit EMC Measurement Procedures—General and Definitions

Neaktuálna vydaná dňa 1.10.2006

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
115.40


SKLADOM
SAE J1752/1 Neaktuálna

ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY MEASUREMENT PROCEDURES FOR INTEGRATED CIRCUITS—INTEGRATED CIRCUIT EMC MEASUREMENT PROCEDURES—GENERAL AND DEFINITIONS

Neaktuálna vydaná dňa 1.3.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
94.90


SKLADOM
SAE J1752/1 Neaktuálna

Electromagnetic Compatibility Measurement Procedures for Integrated Circuits - Integrated Circuit EMC Measurement Procedures - General and Definitions

Neaktuálna vydaná dňa 1.5.2016

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
115.40


SKLADOM
SAE J1752/2 Neaktuálna

Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits—Surface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz

Neaktuálna vydaná dňa 1.1.2003

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
94.90


SKLADOM
SAE J1752/2 Neaktuálna

ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY MEASUREMENT PROCEDURES FOR INTEGRATED CIRCUITS—INTEGRATED CIRCUIT RADIATED EMISSIONS DIAGNOSTIC PROCEDURE 1 MHZ TO 1000 MHZ, MAGNETIC FIELD—LOOP PROBE

Neaktuálna vydaná dňa 1.3.1995

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
129.00


SKLADOM

Zobrazený záznam od 43860 až 43870 z celkom 49928 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.