Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Test Method for Resistance of Protective Clothing Materials to Permeation by Liquids or Gases Under Conditions of Continuous Contact (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1999
Vybraný formát:Practice for Determining Hydrolytic Stability of Plastic Encapsulants for Electronic Devices (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Standard Definition of Terms Relating to Filtration (Withdrawn 2002) (Includes all amendments And changes 2/18/2021).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1993
Vybraný formát:Method for Determining the Crystallographic Axes and Contrast Ratio of a Pockels Cell Electro-Optic Crystal Operating in the Longitudinal Mode (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Practice for Evaluating an Interferometer (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Test Method for Measuring Contrast Ration of a Pair of Linear Polarizers for Visible Radiation (Withdrawn 1995)
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits [Metric]
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2010
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits (Metric) (Withdrawn 2023)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2016
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1997
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits [Metric]
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.2.1997
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 89320 až 89330 z celkom 91586 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-06-09 (Počet položiek: 2 281 484)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.