Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Test Method for Melting Point of Waxes
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2005
Vybraný formát:Standard Test Method for Melting Point of Waxes (Withdrawn 2016) (Includes all amendments And changes 5/4/2016).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.10.2010
Vybraný formát:Standard Test Method for Image Stability of Chemical Carbonless Paper to Light
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.2.1998
Vybraný formát:Standard Test Method for Image Stability of Chemical Carbonless Paper to Light
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.2.1998
Vybraný formát:Standard Test Method for Image Stability of Chemical Carbonless Paper to Light
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2008
Vybraný formát:Standard Test Method for Image Stability of Chemical Carbonless Paper to Light (Withdrawn 2020)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.4.2013
Vybraný formát:Method for Specular Reflectance and Transmittance Measurements of Optically Flat-Coated and Non-Coated Specimens (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Method for Specular Reflectance and Transmittance Measurements of Optically Flat-Coated and Non-Coated Specimens (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1987
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Transistor and Diode Leakage Currents (Withdrawn 2006)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2000
Vybraný formát:Test Method for Apparent Density of Ceramics for Electron Device and Semiconductor Application (Withdrawn 2001)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 89260 až 89270 z celkom 91425 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-05-14 (Počet položiek: 2 277 490)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.