Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Practice for Cleaning Surfaces of Polished Silicon Slices (Withdrawn 1993)
Vybraný formát:Test Method for Measuring Diameter of Semiconductor Wafers (Withdrawn 2001)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1993
Vybraný formát:Test Method for Distortion of Optical Lenses Used in Photomask Fabrication (Withdrawn 1996)
Vybraný formát:Test Method for Distortion of Optical Lenses Used in Photomask Fabrication (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1991
Vybraný formát:Practice for Determining Safe Current Pulse Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Withdrawn 1995)
Vybraný formát:Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components [Metric]
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.5.1995
Vybraný formát:Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components [Metric]
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.5.1995
Vybraný formát:Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Metric)
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.6.2008
Vybraný formát:Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Metric) (Withdrawn 2022)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2013
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1992
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 89020 až 89030 z celkom 91795 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-07-06 (Počet položiek: 2 286 164)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.