Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Specification for Unalloyed Titanium, for Surgical Implant Applications (UNS R50250, UNS R50400, UNS R50550, UNS R50700)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2013
Vybraný formát:Standard Specification for Unalloyed Titanium, for Surgical Implant Applications (UNS R50250, UNS R50400, UNS R50550, UNS R50700)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.3.2017
Vybraný formát:Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.2007
Vybraný formát:Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2012
Vybraný formát:Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2017
Vybraný formát:Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1994
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Flat Length on Wafers of Silicon and Other Electronic Materials (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1999
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Resistivity Profiles Perpendicular to the Surface of a Silicon Wafer Using a Spreading Resistance Probe (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2001
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Resistivity Profiles Perpendicular to the Surface of a Silicon Wafer Using a Spreading Resistance Probe (Includes all amendments And changes 3/2/2021).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2001
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 88790 až 88800 z celkom 91354 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-05-08 (Počet položiek: 2 276 678)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.