(75.00 EUR)
Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8862
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
ASTM F528-99
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method of Measurement of Common-Emitter D-C Current Gain of Junction Transistors
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1999
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F528-99(2005)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method of Measurement of Common-Emitter D-C Current Gain of Junction Transistors (Withdrawn 2011)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1999
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F529-80(1987)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Method for Interpretation of Interferograms of Nominally Plane Wavefronts (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F529-80(1987)e1
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Method for Interpretation of Interferograms of Nominally Plane Wavefronts (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1987
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F53-68(1978)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Recommended Practice for Measurement of Sublimation From Thermionic Emitters (Withdrawn 1984)
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F530-81(1987)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Test Method for Wavefront Distortion of Laser Rods (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F531-81(1987)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Test Method for Wavefront Distortion and Face Parallelism of Laser Disks (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F532-81(1987)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Test Methods for Measuring Width of Defects in Optical Surfaces, Using Nomarski Differential Microscopy (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F532-81(1987)e1
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Test Methods for Measuring Width of Defects in Optical Surfaces, Using Nomarski Differential Microscopy (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1987
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F533-02
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 88610 až 88620 z celkom 91730 záznamov.
Potrebujete pomoc?
