Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Test Method for Water Vapor Transmission Rate of Flexible Barrier Materials Using an Infrared Detection Technique (Withdrawn 2009)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1999
Vybraný formát:Standard Specification for Release Characteristics of Ski-Binding-Boot (S-B-B) Systems for Recreational Skiing
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.2024
Vybraný formát:Standard Test Method for Embossed Depth of Resilient Floor Coverings
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.3.2001
Vybraný formát:Standard Test Method for Embossed Depth of Resilient Floor Coverings
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.10.2006
Vybraný formát:Standard Test Method for Embossed Depth of Resilient Floor Coverings
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2013
Vybraný formát:Standard Test Method for Embossed Depth of Resilient Floor Coverings
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.11.2017
Vybraný formát:Standard Test Method for Embossed Depth of Resilient Floor Coverings (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.3.2001
Vybraný formát:Standard Test Method for Sheet Resistance of Silicon Epitaxial, Diffused, Polysilicon, and Ion-implanted Layers Using an In-Line Four-Point Probe with the Single-Configuration Procedure (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2000
Vybraný formát:Standard Test Method for Sheet Resistance of Silicon Epitaxial, Diffused, Polysilicon, and Ion-implanted Layers Using an In-Line Four-Point Probe with the Single-Configuration Procedure (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Standard Guide for Sports Facility Padding
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.2025
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 88520 až 88530 z celkom 92349 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-09-24 (Počet položiek: 2 302 501)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.