ASTM - Americké technické normy - strana 8823

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8823

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy ASTM - strana 8823" podľa:    


ASTM F525-00a Historická

Standard Test Method for Measuring Resistivity of Silicon Wafers Using a Spreading Resistance Probe (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2000

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
82.10


SKLADOM
ASTM F526-11 Historická

Standard Test Method for Measuring Dose for Use in Linear Accelerator Pulsed Radiation Effects Tests

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2011

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
82.10


SKLADOM
ASTM F526-16 Historická

Standard Test Method for Using Calorimeters for Total Dose Measurements in Pulsed Linear Accelerator or Flash X-ray Machines

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2016

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
82.10


SKLADOM
ASTM F526-97 Historická

Standard Test Method for Measuring Dose for Use in Linear Accelerator Pulsed Radiation Effects Tests

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1991

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
82.10


SKLADOM
ASTM F526-97(2003) Historická

Standard Test Method for Measuring Dose for Use in Linear Accelerator Pulsed Radiation Effects Tests

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
82.10


SKLADOM
ASTM F527-80(1991)E01 Historická

Practice for Adjusting Photoresist Exposure Time (Withdrawn 1996)

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
65.90


do 1 pracovných dní
ASTM F528-99 Historická

Standard Test Method of Measurement of Common-Emitter D-C Current Gain of Junction Transistors

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1999

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.60


SKLADOM
ASTM F528-99(2005) Historická

Standard Test Method of Measurement of Common-Emitter D-C Current Gain of Junction Transistors (Withdrawn 2011)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1999

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.60


SKLADOM
ASTM F529-80(1987) Historická

Method for Interpretation of Interferograms of Nominally Plane Wavefronts (Withdrawn 1994)

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


do 1 pracovných dní
ASTM F529-80(1987)e1 Historická

Method for Interpretation of Interferograms of Nominally Plane Wavefronts (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1987

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.60


do 1 pracovných dní

Zobrazený záznam od 88220 až 88230 z celkom 91334 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.