ASTM - Americké technické normy - strana 8412

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8412

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy ASTM - strana 8412" podľa:    


ASTM F521-16 Historická

Standard Test Methods for Bond Integrity of Transparent Laminates

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.4.2016

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.30


SKLADOM
ASTM F521-83(1997)e1 Historická

Standard Test Methods for Bond Integrity of Transparent Laminates (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.30


SKLADOM
ASTM F521-83(2004) Historická

Standard Test Methods for Bond Integrity of Transparent Laminates

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.10.2004

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.30


SKLADOM
ASTM F521-83(2010) Historická

Standard Test Methods for Bond Integrity of Transparent Laminates

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2010

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.30


SKLADOM
ASTM F522-94 Historická

Test Method for Stacking Fault Density of Epitaxial Layers of Silicon by Interference-Contrast Microscopy (Withdrawn 1998)

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.10


SKLADOM
ASTM F523-02 Historická

Standard Practice for Unaided Visual Inspection of Polished Silicon Wafer Surfaces (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.30


SKLADOM
ASTM F523-93(1997) Historická

Standard Practice for Unaided Visual Inspection of Polished Silicon Wafer Surfaces

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.30


SKLADOM
ASTM F524-77(1992) Historická

Test Methods for Measuring Beam Divergence of Pulsed Lasers by the Apertured-Detector Technique (Withdrawn 2001)

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1992

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.30


SKLADOM
ASTM F525-00a Historická

Standard Test Method for Measuring Resistivity of Silicon Wafers Using a Spreading Resistance Probe (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2000

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
83.60


SKLADOM
ASTM F526-11 Historická

Standard Test Method for Measuring Dose for Use in Linear Accelerator Pulsed Radiation Effects Tests

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2011

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
83.60


SKLADOM

Zobrazený záznam od 84110 až 84120 z celkom 87127 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.