Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8408
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
ASTM F530-81(1987)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Test Method for Wavefront Distortion of Laser Rods (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F531-81(1987)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Test Method for Wavefront Distortion and Face Parallelism of Laser Disks (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F532-81(1987)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Test Methods for Measuring Width of Defects in Optical Surfaces, Using Nomarski Differential Microscopy (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F532-81(1987)e1
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Test Methods for Measuring Width of Defects in Optical Surfaces, Using Nomarski Differential Microscopy (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1987
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F533-02
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F533-02a
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F533-96
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F534-02
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Bow of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F534-02a
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Bow of Silicon Wafers (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F534-97
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Bow of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 84070 až 84080 z celkom 87067 záznamov.
Potrebujete pomoc?
