Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Test Method for Curl in Carbon Paper (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.2.2000
Vybraný formát:Standard Test Method for Curl in Carbon Paper
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2005
Vybraný formát:Standard Test Method for Curl in Carbon Paper (Withdrawn 2016)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.10.2010
Vybraný formát:Test Method for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 1998)
Vybraný formát:Test Method for Flexural Strength (Modulus of Rupture) of Electronic-Grade Ceramics (Withdrawn 2001)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996
Vybraný formát:Standard Practice for Preparation of Samples of the Constant Composition Region of Epitaxial Gallium Arsenide Phosphide for Hall Effect Measurements (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 27.5.1977
Vybraný formát:Standard Practice for Preparation of Samples of the Constant Composition Region of Epitaxial Gallium Arsenide Phosphide for Hall Effect Measurements (Withdrawn 2008)
NEPLATNÁ vydaná dňa 27.5.1977
Vybraný formát:Test Method for Determining Carrier Density in Silicon Epitaxial Layers by Capacitance-Voltage Measurements on Fabricated Junction or Schottky Diodes (Withdrawn 2001)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1994
Vybraný formát:Standard Test Methods for Conductivity Type of Extrinsic Semiconducting Materials (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Standard Test Methods for Conductivity Type of Extrinsic Semiconducting Materials
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1997
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 83690 až 83700 z celkom 87155 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2024-11-01 (Počet položiek: 2 208 817)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.