ASTM - Americké technické normy - strana 8256

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8256

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy ASTM - strana 8256" podľa:    


ASTM F1808-97a Historická

Standard Guide for Weight Control Technical Requirements for Surface Ships (Includes all amendments And changes 3/2/2021).

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.11.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
109.20


SKLADOM
ASTM F1808-97a(2002) Historická

Standard Guide for Weight Control Technical Requirements for Surface Ships (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.11.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
109.20


SKLADOM
ASTM F1809-02 Historická

Standard Guide for Selection and Use of Etching Solutions to Delineate Structural Defects in Silicon (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.10


SKLADOM
ASTM F1809-97 Historická

Standard Guide for Selection and Use of Etching Solutions to Delineate Structural Defects in Silicon

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.10


SKLADOM
ASTM F1810-97 Historická

Standard Test Method for Counting Preferentially Etched or Decorated Surface Defects in Silicon Wafers

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.20


SKLADOM
ASTM F1810-97(2002) Historická

Standard Test Method for Counting Preferentially Etched or Decorated Surface Defects in Silicon Wafers (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.20


SKLADOM
ASTM F1811-97 Historická

Standard Practice for Estimating the Power Spectral Density Function and Related Finish Parameters from Surface Profile Data

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
83.80


SKLADOM
ASTM F1811-97(2002) Historická

Standard Practice for Estimating the Power Spectral Density Function and Related Finish Parameters from Surface Profile Data (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
83.80


SKLADOM
ASTM F1812-02 Historická

Standard Test Method for Determining the Effectiveness of Membrane Switch ESD Shielding

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.20


SKLADOM
ASTM F1812-09 Historická

Standard Test Method for Determining the Effectiveness of Membrane Switch ESD Shielding

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.6.2009

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.20


SKLADOM

Zobrazený záznam od 82550 až 82560 z celkom 91795 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.