Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Specification for Arc and Flame Resistant Rainwear
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2019
Vybraný formát:Standard Specification for Arc and Flame Resistant Rainwear (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.3.2002
Vybraný formát:Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2004
Vybraný formát:Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.7.2006
Vybraný formát:Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.7.2012
Vybraný formát:Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1998
Vybraný formát:Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2011
Vybraný formát:Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices (Withdrawn 2023)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.3.2018
Vybraný formát:Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1998
Vybraný formát:Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1998
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 82430 až 82440 z celkom 91193 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-04-19 (Počet položiek: 2 274 482)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.