Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Practices for Determining Stability of Direct Thermal Imaging Products
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.2.2004
Vybraný formát:Standard Practices for Determining Stability of Direct Thermal Imaging Products (Withdrawn 2015)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.10.2009
Vybraný formát:Standard Practices for Determining Stability of Direct Thermal Imaging Products
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996
Vybraný formát:Standard Test Method for Determining Mass and Moment of Inertia of Alpine Skis
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2009
Vybraný formát:Standard Test Method for Determining Mass and Moment of Inertia of Alpine Skis
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.7.2015
Vybraný formát:Standard Test Method for Determining Mass and Moment of Inertia of Alpine Skis
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996
Vybraný formát:Standard Test Method for Determining Mass and Moment of Inertia of Alpine Skis
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.2.2003
Vybraný formát:Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002
Vybraný formát:Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2001
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 82090 až 82100 z celkom 91795 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-07-03 (Počet položiek: 2 286 013)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.